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🧠 一、什么是探针卡？

探针卡（Probe Card），是半导体测试环节中连接芯片晶圆和测试仪器的重要工具。你可以把它理解为一种“测试用的插针垫子”，当芯片还在晶圆上没有切割时，探针卡就用它细小的针头和芯片上的接点（pad 或 bump）接触，通过这些针头把电信号送进去或读出来，从而判断芯片是否正常。

悬臂探针卡是一种适用于晶圆级芯片测试的接触接口工具，其探针呈悬臂状结构排列在 PCB 板上，通过弹性金属针尖与晶圆芯片 I/O 焊盘接触，完成电性测试。

该结构成熟稳定，制造成本适中，广泛应用于 AI 芯片、SoC、模数混合 IC 等的研发验证和量产测试中。

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🛠️ 产品结构特点

项目	说明
🔩 探针排列	多排悬臂结构，支持高密度布针
🧲 材料选择	BeCu、CoBe、PdAlloy、钢材等
⚙️ 针尖结构	标准尖型、斜面、镀金可选
🧷 固定方式	探针固定于多层 PCB，通过治具压接安装
🔬 封装支持	QFN、BGA、WLCSP、LGA、裸晶等

垂直探针卡是一种专为小间距、倒装芯片测试场景而设计的高密度电性接触解决方案。探针呈垂直阵列方式安装，具备高并行度、高耐电流、高可靠性等特点，特别适合BGA、CSP、Flip-Chip等底部I/O型封装结构的晶圆级测试。

垂直探针卡采用MEMS或微弹性材料制造，可精准接触微米级锡球、铜柱及微凸点（Micro Bump），广泛应用于GPU、CPU、SoC等高性能芯片量产测试。

探针卡是一种用于半导体测试的重要工具，广泛应用于芯片制造和测试环节。它的主要功能是通过微小的探针与芯片接触，完成电气性能的测试。以下是探针卡的详细介绍。

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什么是探针卡？

探针卡（Probe Card）是一种连接测试设备和芯片的桥梁。它通过精密的探针与芯片上的焊盘接触，传递信号并检测芯片的性能。

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探针卡的核心特点