2025/5/10大约 2 分钟
🧩 悬臂探针卡（Cantilever Probe Card）
悬臂探针卡是一种适用于晶圆级芯片测试的接触接口工具，其探针呈悬臂状结构排列在 PCB 板上，通过弹性金属针尖与晶圆芯片 I/O 焊盘接触，完成电性测试。
该结构成熟稳定，制造成本适中，广泛应用于 AI 芯片、SoC、模数混合 IC 等的研发验证和量产测试中。
🛠️ 产品结构特点
| 项目 | 说明 |
|---|---|
| 🔩 探针排列 | 多排悬臂结构，支持高密度布针 |
| 🧲 材料选择 | BeCu、CoBe、PdAlloy、钢材等 |
| ⚙️ 针尖结构 | 标准尖型、斜面、镀金可选 |
| 🧷 固定方式 | 探针固定于多层 PCB，通过治具压接安装 |
| 🔬 封装支持 | QFN、BGA、WLCSP、LGA、裸晶等 |
📊 技术参数参考
| 参数 | 典型数值范围 |
|---|---|
| 接触阻抗 | < 1Ω |
| 探针间距 | 最小支持 50μm |
| 探针数量 | 10~数百个（支持多通道测试） |
| 使用寿命 | > 10,000 次 |
| 接触力 | 单针 3~15g 可调 |
| 精度 | 针对 ±5μm 精度封装适配优化 |
| 适配接口 | 半自动/全自动探针台兼容 |
🧠 应用领域
✅ AI 芯片测试
适用于 NPU、语音识别芯片、边缘AI SoC 等晶圆级电性测试
👉 适合早期功能验证 / 良率分析 / 小批量量产
✅ 模拟与混合信号 IC
用于 ADC、DAC、LDO、电源管理芯片的多通道测试
👉 支持 QFN/DFN 封装预烧测与功能验证
✅ 教研/实验室打样
高校/研究所快速打样测试，测试设计灵活可调
👉 支持结构复用、低成本单件定制
✅ 通信 & 工业 IC
包括 MCU、通信 SoC、传感器芯片等晶圆测试场景
👉 可匹配多通道自动测试平台使用
🥇 产品优势
| 优势点 | 描述 |
|---|---|
| 🎯 灵活定制 | 支持多种封装、不同排列结构与针尖类型定制 |
| 🕒 快速交期 | 常规结构 3~7 天交付，紧急样品最快 48 小时完成 |
| 🧪 测试稳定性强 | 接触一致性高，阻抗稳定，适配主流探针台接口 |
| 🧷 可维修更换 | 单针可更换结构，便于维护，提升长期使用性 |
| 💰 成本可控 | 相比 MEMS 卡结构简单，适合早期项目打样与验证 |
📦 提供服务
- 🔧 一对一定制设计（可提供封装图审查与建议）
- 📐 包含治具 + 探针卡 + 测试图纸（可整套打包）
- 📤 支持全国发货，样品可加急处理
- 🤝 提供使用指导文档 + 技术在线支持
联系我们
如需了解更多信息或定制探针卡，请联系我们：
电话: 182-0118-1983
邮箱: yuning662008@gmail.com
官网: www.hqsim.com
探针卡是芯片测试的关键工具，我们致力于为客户提供高质量的产品和服务，助力半导体行业的发展！